由于半導(dǎo)體產(chǎn)品的生產(chǎn)工藝十分繁雜，任何工序的差錯(cuò)都可能導(dǎo)致出現(xiàn)大量產(chǎn)品質(zhì)量不合格，并對(duì)終端應(yīng)用產(chǎn)品的性能造成重大影響，因此測(cè)試探針對(duì)于半導(dǎo)體產(chǎn)品的生產(chǎn)而言至關(guān)重要，貫穿半導(dǎo)體產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用的全過程。

　　探針是半導(dǎo)體測(cè)試中所需的重要耗材，通過與測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、探針臺(tái)配合使用，用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓測(cè)試、成品測(cè)試環(huán)節(jié)，篩選出產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷和制造缺陷，在確保產(chǎn)品良率、控制成本、指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)等方面具有重要作用。

　　深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車床車削成形，經(jīng)過精密的鍍層、硬度、壽命測(cè)試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當(dāng)。同時(shí)還提供德國INGUN、美國QA、臺(tái)灣CCP等名牌探針。